三项”

    她用激光笔依次点着三份文件：

    “第一，一种TE/APT通用样品制备方法。核心是利用特定参数的FI刻蚀和原位微纳操纵探针，在TE观测的薄膜目标区域‘雕刻’出符合APT分析要求的纳米针尖。”

    “第二，一种统一穿透测试视场的采样纳米针尖结构设计。这种特殊几何形状的针尖，确保TE观测的视场区域与后续APT进行场蒸发的针尖顶端区域，在空间上高度重合或可精确对应。”

    “第三，一种透射电子显微镜下的四自由度纳米操纵平台及其定位方法。集成了激光定位和图像识别算法，确保TE观察后，能高精度、原位地将同一微区的样品针尖送入APT分析位置……”

    “……”